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蔡司X射線(xiàn)顯微鏡-3D射線(xiàn)顯微鏡
蔡司X射線(xiàn)顯微鏡VersaXRM 730
蔡司X射線(xiàn)顯微鏡VersaXRM 730 出色的斷層掃描，¹時(shí)刻滿(mǎn)足每位用戶(hù)、各種樣品的多樣化需求探索蔡司VersaXRM 730的無(wú)限潛能，盡享其特色的40×-Prime物鏡和屢獲殊榮的ZEN navx。該系統(tǒng)憑借出眾的圖像分辨率性能，重新定義了亞微米成像，為您的研究帶來(lái)了全新的突破性功能。ZEN navx利用智能系統(tǒng)的洞察力簡(jiǎn)化工作流，確
蔡司微焦點(diǎn)CT Xradia Context microCT
蔡司Xradia Context是一種大視場(chǎng)，非破壞性3D X射線(xiàn)微型計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)。 借助強(qiáng)大的平臺(tái)和靈活的軟件控制源/探測(cè)器定位，您可以在完整的3D環(huán)境中對(duì)大型，重型(25 kg)和高樣本進(jìn)行成像，以及具有高分辨率和細(xì)節(jié)的小樣本。 獲取完整的電子元件，大型原材料樣品或生物樣品的3D數(shù)據(jù)。 執(zhí)行非破壞性故障分析，以識(shí)別內(nèi)部缺陷，而無(wú)需切割樣品或工件 表征和
進(jìn)口X射線(xiàn)顯微鏡Xradia 810 Ultra
擴(kuò)展非破壞性納米尺度成像的范圍和價(jià)值 使用蔡司Xradia 810 Ultra X射線(xiàn)顯微鏡實(shí)現(xiàn)低至50 nm的空間分辨率，這是基于實(shí)驗(yàn)室的X射線(xiàn)成像系統(tǒng)中*高的。 通過(guò)非破壞性3D成像體驗(yàn)的性能和靈活性，在當(dāng)今的突破性研究中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。 創(chuàng)新的Xradia Ultra架構(gòu)采用獨(dú)特的X射線(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)，采用同步加速器技術(shù)，具有吸收和相位對(duì)比。 現(xiàn)在能量為5.4 keV
蔡司X射線(xiàn)顯微鏡Xradia610 & 620 Versa
蔡司X射線(xiàn)顯微鏡Versa憑借優(yōu)異的大工作距離高分辨率(RaaD)的特性，成為了全球優(yōu)秀研究人員和科學(xué)家的“有力幫手”。在相對(duì)大工作距離下也能保持高分辨率，有助于產(chǎn)生意義非凡的科學(xué)見(jiàn)解和發(fā)現(xiàn)。隨著當(dāng)今技術(shù)的快速發(fā)展，對(duì)分析儀器也提出了更高的要求，而蔡司Xradia 600 Versa系列就是專(zhuān)為應(yīng)對(duì)這一挑戰(zhàn)而設(shè)計(jì)的。 蔡司X射線(xiàn)顯微鏡Xradia 610 & 620
蔡司3D射線(xiàn)顯微鏡Xradia 510 Versa
蔡司Xradia 510 Versa具有突破性靈活性的3D亞微米成像系統(tǒng) 用這款X射線(xiàn)顯微鏡打破1微米分辨率的障礙，進(jìn)行3D成像和原位/ 4D研究。 將分辨率和對(duì)比度與靈活的工作距離結(jié)合使用，可以擴(kuò)展實(shí)驗(yàn)室中的非破壞性成像能力。 得益于其采用兩級(jí)放大技術(shù)的結(jié)構(gòu)，可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離(RaaD)的亞微米分辨率。減少對(duì)幾何放大率的依賴(lài)性，即使在較大的工作距離下也可保持亞微米
